10 Stück SEM-Optikgehäusesubstrate – einseitiges Siliziumpolieren for Elektronenmikroskopie und erweiterte Analyse(8x8 mm)
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Produktbeschreibung
Packung mit 10 einseitigen Siliziumsubstraten for fortgeschrittene Elektronenmikroskopieanwendungen. Verwendet die Methode des Einkristallwachstums (Cz) mit P-Typ-Dotierung for optimale Leistung in verschiedenen analytischen Prozessen. Ideal zur Verwendung als Gehäuse for Synchrotronstrahlungsproben und in PVD/CVD-Beschichtungsanwendungen. Vielseitiges Substrat, geeignet for Magnetronsputtern-Wachstum, XRD, SEM und Rasterkraftmikroskopie-Analysen. Anpassbare Optionen zur Erfüllung spezifischer Forschungs- und Testanforderungen verfügbar; kontaktieren Sie uns for maßgeschneiderte Lösungen.
Produktvarianten, Größen und Optionen
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