10er-Pack einseitige Silizium-Poliersubstrate for SEM – P-Typ-AFM-Gehäuse for erweiterte Materialanalyse(5x5 mm)
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Produktbeschreibung
Packung mit 10 einseitigen Silizium-Poliersubstraten for Anwendungen in der Rasterelektronenmikroskopie (REM). Hergestellt aus einkristallinem (Cz) Silizium mit einer Kristallorientierung von , was optimale Leistung for fortgeschrittene Materialanalysen gewährleistet. Durch die P-Typ-Dotierung werden die elektrischen Eigenschaften verbessert, wodurch diese Substrate ideal for eine Vielzahl von Versuchsaufbauten und Analysen geeignet sind. Vielseitig einsetzbar for Synchrotronstrahlungsproben, PVD/CVD-Beschichtung, Magnetronsputtern, XRD, AFM, Infrarotspektroskopie und mehr. Anpassbare Lösungen zur Erfüllung spezifischer Forschungsanforderungen verfügbar; kontaktieren Sie uns for maßgeschneiderte Substratoptionen zur Verbesserung Ihrer Experimente.
Produktvarianten, Größen und Optionen
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