Desktop LCR Tester Desktop Digital Bridge ET4501 ET4502 ET4510 10Hz ~ 100kHz 1 Hz Stufenlos einstellbare Frequenz,Zuverlässige Tests(ET4510 standard)

Produktbeschreibung

1. Verbesserte Messgenauigkeit: Der Desktop LCR Tester Digital Bridge der ET45-Serie bietet ein überragendes Maß an Genauigkeit und Präzision bei der Analyse von Komponentenparametern. Mit einer Grundmessgenauigkeit von 0,1 % bietet er zuverlässige und präzise Messungen for eine breite Palette von Komponenten und Materialien. 2. Großer Frequenzbereich: Diese Desktop Digital Bridge unterstützt eine Messfrequenz von bis zu 100 kHz und ermöglicht so umfassende Testmöglichkeiten. Die Frequenz ist stufenlos in 1-Hz-Schritten einstellbar und bietet so Flexibilität bei der Messung verschiedener Komponenten und Materialien. 3. Benutzerfreundliche Schnittstelle: Mit einem 3,5-Zoll-TFT-Display bietet diese Digital Bridge eine klare und intuitive Benutzeroberfläche. Das Display zeigt wichtige Messungen und Parameter an und gewährleistet so eine einfache Interpretation der Testergebnisse. Darüber hinaus kann das System an spezifische Anforderungen wie Spracheinstellungen und Bildschirmhelligkeit angepasst werden. 4. Vielseitige Testfunktionen: Die Digital Bridge der ET45-Serie bietet verschiedene Testfunktionen for unterschiedliche Anforderungen. Sie unterstützt die Messung von Gleichstromwiderstand (DCR) und Elektrolytkondensatoren und ermöglicht so eine umfassende Komponentenanalyse. Darüber hinaus kann die interne Vorspannungsausgabe von 0 mV bis 1500 mV eingestellt werden, was genaue Messungen in verschiedenen Szenarien ermöglicht. 5. Praktische Konnektivitätsoptionen: Ausgestattet mit mehreren Schnittstellen, darunter USB-Gerät, RS232 und Handler, bietet diese Digital Bridge nahtlose Konnektivität for Datenübertragung und -steuerung. Sie verfügt außerdem über eine Datenaufzeichnungsfunktion, mit der Benutzer Messdaten einfach verfolgen und analysieren können. Mit ihren vielseitigen Kommunikationsfunktionen gewährleistet diese Digital Bridge eine mühelose Integration in vorhandene Testsysteme.